「X線回折分析の基礎とEmpyreanの紹介」
https://www.fitc.pref.fukuoka.jp/jinzai-ikusei/r5xempyrean.php
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X線回折分析装置は、セラミックスや金属、粉末等の様々な試料に含まれる結晶相の分析をする装置です。
分析方法には、集中光学系や平行光学系での分析、微小部分析があり、原料や製品の分析や品質管理等に幅広く利用いただけます。
本講習会では、スペクトリス(株)より講師をお招きし、パナリティカル　Emyrpeanの測定原理や概要について事例をまじえながらご紹介いただきます。
測定原理と実践を総合的に理解できる機会です。多くの皆様のご参加をお待ちしています。

■日　時：令和５年１１月２９日（水）　13:00～14:10
■形　式：オンライン開催(Cisco Webex Meeting使用)
■参加資格：特にありません。御興味のある方はどなたでもご参加いただけます。
■参加料：無料
■定　員：最大50名
■申込方法：件名を「１１２９講習会申し込み」とし、氏名、連絡先（E-mail、TEL／FAX）、
所属（会社名、部課名、等）を本文に明記の上、下記申込み先までＥメールにてお申し込
みください。
■申込先アドレス：t2harada@fitc.pref.fukuoka.jp

■問い合わせ先：福岡県工業技術センター　化学繊維研究所　化学課
セラミック材料チーム　　担当：原田、阪本、親川、宮口
TEL： 092-925-7722　FAX: 092-925-7724
E-mail： t2harada@fitc.pref.fukuoka.jp

■詳細は、福岡県工業技術センターのホームページをご覧ください。
https://www.fitc.pref.fukuoka.jp/jinzai-ikusei/r5xempyrean.php
（https://www.fitc.pref.fukuoka.jp/jinzai-ikusei/docs/XRDEmpyrean.pdf）